常規(guī)的X射線測厚儀比如德國菲希爾的FISCHERSCOPE X-RAY XULM，是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結(jié)構(gòu)緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無損測量細(xì)小零部件上的鍍層厚度和成分分析。為了使每次測量都能在*的條件下進(jìn)行，XULM配備了可電動調(diào)整的多種準(zhǔn)直器及基本濾片。 比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了Fischer基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行準(zhǔn)確分析和測量。可測量的元素范圍從氯（17）到鈾（92）。

XULM型X射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。

本款儀器特別適合用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

微小零部件、接插件和線材上鍍層厚度的測量

印制線路板上手動測量

珠寶手表業(yè)中的鍍層厚度測量及成分分析 

設(shè)計理念

FISCHERSCOPE X-RAY XULM設(shè)計為界面友好、結(jié)構(gòu)緊湊的臺式測量儀器系列。根據(jù)使用用途，有以下兩種不同版本型號，分別對應(yīng)不同樣品平臺：

XULM： 固定平面平臺

XULM XYm： 手動X/Y平臺

高分辨的彩色攝像頭配以強大的放大功能，可以定位測量位置。

盡管儀器本身結(jié)構(gòu)緊湊，但是由于XULM光譜儀配備了寬敞的測量室，從而可以測量更大體積的樣品。

外罩底部留下了空隙，可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品，如大面積的印制線路板等。

通過強大且界面友好的WinFTM®軟件，可以在電腦上便捷地完成整個測量過程，包括測量結(jié)果的數(shù)據(jù)分析和所有相關(guān)信息的顯示等。

XULM型光譜儀是型式許可符合德國”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的，有完善防護(hù)措施的測量儀器。